冷凍掃描電鏡和冷凍透射電鏡

2 掃描電鏡 特點制樣相對簡單，對樣品的要求包括固態無毒等 樣品制備 塊狀材料可通過導電膠粘結或鍍膜處理 粉末樣品使用分散法或鍍膜法處理3 冷凍電鏡 特點適用于液體半液體和電子束敏感材料 樣品處理需經過超低溫冷凍和鍍膜后觀察，以保持樣品的原始形態4。

這一情況在2013年得到了改變，程亦凡與David Julius兩個實驗室合作，采用單電子計數探測器，以近原子分辨率解析了疼痛和熱知覺中心作用的膜蛋白TRPV1的結構，標志著冷凍電鏡正式跨入“原子分辨率”時代冷凍電鏡技術主要分為三類冷凍透射電子顯微鏡冷凍掃描電子顯微鏡和冷凍蝕刻電子顯微鏡冷凍透射電子顯微鏡。

1 透射電鏡TEM制樣TEM樣品制備是實驗核心，分為頂入式和側插式樣品臺支撐網材質如CuNiBe尼龍等，需注意與樣品成分區分制備方法包括滴樣和撈取，需注意關鍵點和注意事項2 掃描電鏡SEM制樣SEM樣品需為固體，無毒放射性污染磁性水分，組分穩定導電材料直接粘結。

冷凍冷凍能保持樣品的原始結構，主要目的是使樣品迅速冷卻到液氮溫度，避免在冷凍過程中發生結構變化通常使用液氮冷凍樣品，或者將樣品暴露在液氮中的乙烷中進行冷凍電子顯微鏡掃描冷凍樣品制備完成后，放入電子顯微鏡中進行掃描樣品受到電子束的照射，通過透射電子顯微鏡模式觀察樣品結構調整電子束的。